宜特小學堂：ECM電化學/ 離子遷移現象如何預防| TechNews 科技新報 - TechNews 科技新報

7/11/2022 12:00:00 AM2 years 9 months ago
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HAST 實驗過程中，封裝樣品產生 ECM，是助焊劑的問題？還是實驗環境出了問題？如何預防呢？ 可靠度試驗中，有一項，叫做高加速應力試驗（Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test，簡稱 HAST），主要是在測試 IC...

HAST ECM Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test HAST IC DC IC SocketHAST board IC 20 Ball Grid Array BGAChip Scale package CSP HAST Electrochemical migration ECM? ECM Electr… [+442 chars]

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